显微镜及配套设备

透射电子显微镜

 JEOL 1200EX用SEM和干单元。 (六硼化镧灯丝)

JEOL 1200EX用SEM和干单元。 (六硼化镧灯丝)lojeol 1200EX透射电镜用SEM和茎单元

的JEOL 1200EX是具有工作电压范围从40到120千电子伏的透射电子显微镜。它配有一灯丝的LaB 6。

该TEM主要用于由生命科学研究人员对生物组织的超薄切片观察。

它装有ASID扫描单元使未染色的厚部分和高分辨率SEM成像的干visualiation。

 

 

日本电子2100 200KV TEM六硼化镧与牛津印加编

的JEM-2100电子显微镜提供了范围广泛的材料,纳米电子学和生物科学领域的问题的解决方案。

的JEM-2100具有特别调谐的高倾斜断层应用的高稳定性的测角器台。

JEOL JEM-2100 LaB6 Transmission Electron Microscope

的JEM-2100具有三个独立的聚光透镜和产生最高探针电流为任何给定的探针尺寸,其允许改进的分析和衍射能力。专利JEOL阿尔法选择™允许用户的各种照明条件的选择,从充分会聚光束平行照射。

物镜透镜微型装置的标准掺入洛伦兹显微镜是这种显微镜的标准功能。高对比度孔径可用于极片的任何选择,使高对比度成像和同时编

的JEOL 2100的LaB 6 TEM装配有牛津仪器印加EDS系统。

飞利浦与干,加坦鳗鱼和牛津大学ISIS编TECNAI F20

飞飞利浦TECNAI F20 与牛津仪器ISIS EDS和加坦数码网络果皮。该机器具有用于衍射,干成像,双倾斜角度计阶段和数字图像采集能力。

飞飞利浦TECNAI F20TECNAI F20

从飞场发射枪透射电子显微镜。

  • 点分辨率:0.24nm
  • 线分辨率:0.12nm
  • CS目标:1.2毫米
  • CC目标:1.2毫米
  • 焦距:1.7毫米
  • 肖特基场发射器
  • 高倾斜(40°)测角器双
  • 干,约为0.2nm分辨率
  • 加坦TV摄像机,牛津ISIS EDX和加坦digipeels探测器

这是问心无愧伯明翰,华威大学和拉夫堡大学区域设施。

同时用于材料科学和生命科学的工作。

扫描电子显微镜

cfei量子3D FEG FIB-SEM

该量子3D FEG是一种多用途的高分辨率,低真空SEM / FIB二维和三维材料表征和分析。

该量子3D FEG的场致发射型电子源提供清晰和锐利的电子成像。增加的电子束电流提高EDS和EBSP分析。具有三个成像模式 - 高真空,低真空和esemtm

广达3D FEG的高电流FIB可实现快速材料去除。自动化FIB切片配方使得能够进行精确的横切片。

The Quanta 3D FEG电子束的分辨率

  • 高真空
    - 在30千伏(干)0.8纳米*
    -1.2纳米,在30千伏(SE)
    -2.5在30千伏(BSE)纳米*
    -2.9纳米在1kV(SE)
  • 低真空
    -1.5纳米,在30千伏(SE)
    在30kV 2.5纳米(BSE)
    -2.9纳米在3千伏(SE)
  • 扩展低真空模式(ESEM)
    -1.5纳米,在30千伏(SE)

离子束的分辨率

在在光束重合点30千伏7纳米(在最佳工作距离为5nm实现)

电子光学

  • 高分辨率场致发射 - SEM镜筒用于highbrightness /高电流*可选优化
  • 60度物镜几何通过镜头差动泵送和加热目标孔
  • 加速电压:200伏 - 30千伏(可选降到100 v)的
  • 探针电流:高达200 NA -continuously可调
  • 放大率30× - 1280 KX在“四”模式

I在光学

  • 大电流用GA液态金属离子源离子柱
  • 源寿命:1000小时保证
  • 加速电压:2 - 30千伏
  • 探针电流:1帕 - 65 NA 15个步骤
  • 射束消隐标准,外部控制可能
  • 15-位孔条
  • 放大率40× - 1280 KX在“四”模式在10kV
  • 电荷中和模式的非导电样品的铣削

室真空

  • 高真空: < 6e-4 Pa
  • 低真空度:10〜130巴
  • ESEM-真空:10到4000巴
  • Pump-down time (high-vacuum): < 3 minutes

真空系统

  • 1×240升/秒的TMP
  • 2×PVP无油(涡旋泵)
  • 2×IGP(为电子柱)
  • 1×IGP(对于离子柱)
  • 专有通过镜头差动泵浦
  • 束气体路径长度:10或2mm
  • 高和低真空之间的无缝过渡
  • 在低真空和ESEM成像气:水蒸汽或辅助气体

 

日本电子6060与牛津印加编 

规格

  • 分辨率HV模式:3.5nm@30kv
  • 分辨率LV模式:4.0nm@30kv
  • LV压力范围:1至270巴
  • ACC。电压:0.5〜30千伏
  • 阶段动作:10×20mm的

日本电子6060与牛津印加编这个仪器是传统SEM与所添加的能力也与试样腔室较差真空工作。

在腔室中的真空度是由具有大的前级陷阱和保护柱和物镜孔径的独特类型的真空孔口的单独额外泵自动维持在一个可设置的值。

最常在LV-模式中使用的检测器是专利3个元素固态检测器,其给出两个图像地形和z对比度的图像。

当在正常高真空水平操作这些SEMS的性能是相同的等效传统型号。

由LV技术获得重要的额外的可能性是:

具有差的或不具有导电性的样品其通常要么涂有导电涂层(其需要时间和兽皮真实的表面)或在低电压的研究(其不给后向散射或X射线信息)的研究。
在20巴的范围内的典型的最佳压力在LV-模式下工作将中和积聚在与所述腔室的气体中产生的正离子的样品的负静电荷。不仅可以得到优异的图像地形而且两个反向散射图像与组成的z的对比度和x射线分析。

研究含有挥发性物质的样品(例如水,油)中,其通常需要由晚期和/或耗时的方法干燥。在LV-模式这样的样品通常可以直接影响。

该仪器装配有牛津仪器INCA 300编系统

JEOL 7000F与牛津印加EDS,波浪WDS和晶体EBSD

规格

  • 分辨率:在15kV 1.2纳米,在1kV 3.0nm的
  • 发射肖特基TFE
  • 探针电流10-12至10-7一
  • 放大倍数10 - 200万元X
  • 阶段1.xy 50x70毫米
  • 阶段2.xy 110x80毫米
  • 阶段ž1.5 - 41毫米
  • 旋转360度共心
  • 样品尺寸:150mm×最大。 200毫米选项
  • 倾斜 - 5°至+ 60°

Jeol JSM-7000F FE-SEM with Schottky emitter

一个独特的镜头枪与强退出锥透镜设计肖特基发射器的组合,给人以在所有电压和工作距离和出色的分析能力都高分辨率的仪器。无级变速起来的稳定电子束电流到200 NA使得对于这些WDS的理想平台(波色散X射线光谱仪),将由EBSP(电子背散射图案)相机,以及用于正常EDX(能量色散X射线光谱仪)

在电子显微镜中心的JSM-7000F装有牛津印加编,波WDS和晶体EBSD。

合并的ED / WD微量分析

合并的EDS光谱仪和WDS光谱仪上的SEM允许microanalyst采取两种技术的长处。 EDS是用于快速抽样调查。如果需要更多的信息,例如为了解决峰重叠时,WDS光谱仪可用于提供更详细的光谱。从EDS和WDS光谱仪的数据也可以被组合为最准确的定量分析,也可用于X射线的映射。

飞利浦XL-30(的LaB 6)与链路ISIS编

通用50×50毫米级SEM装有的LaB 6长丝。

该SEM装配有牛津仪器印加EDS系统和nordlyss相机HKL EBSD系统。

HKL CHANNEL5采用模块化的方法对它的各种功能和软件许可证。所有的软件模块相互无缝交互,形成了强大的表现力套件与执行微观结构表征。 HKL CHANNEL5的目的是在学术和工业研究和工业过程控制材料科学家。地质学家也会发现它支持他们与对称性低的索引,伪对称校正,并与大多数SEM的阶段,控制大面积测绘研究的需要。

成功和准确的数据采集是任何电子背散射衍射分析的基础。任何采集软件必须设计不仅准确性和可靠性,同时也为通用性。

因此,HKL CHANNEL5弗拉门戈允许图像采集,多功能EBSD分析(作品既nordlyss和nordlysf +)和相位识别所有内的单个节目。

Philips XL-30 LaB6 SEMnordlyss - 规格

  • 在不使用时容易伸缩
  • 12位数字CCD相机芯片上集成
  • 像素时钟速率:20兆赫
  • 相机的分辨率 - 1344 x 1024像素 - 利用100个%的像素
  • 像素合并 - 到8x8超高速高速
  • 速度高达每秒106个ebsps
  • 数字增强和摄像机控制在CHANNEL5采集软件
  • 最小的几何失真
  • 全电动插入和缩回,与远程控制
  • 检测器定位到0.1mm内
  • 自动安全机制,发声触摸报警和自动回缩,以防止损坏
  • 矩形荧光屏,CCD芯片的匹配形状
  • 锥形鼻部 - 允许与其他的检测器的更少遮蔽定位更靠近样品
  • 捕获角可以从15°调整-130°,无重聚焦,SEM依赖
  • 可选的集成forescatter检测器系统,内置在电馈通 - 可在稍后的日期改装
  • 多达6 forescatter二极管可能,给两个方向,相位相反的
  • 所述检测器可以不同SEMS之间移动
  • 检测器的大小(外腔):390毫米长,75mm直径

飞利浦XL-30 FEG SEM环境与牛津印加编

XL- 30 FEG ESEM本仪器配有牛津印加300名编辑系统。

飞利浦在压力高达10托和样品温度高达1500 OC XL30 ESEM-FEG提供高分辨率二次电子成像。这意味着湿,油性,脏,脱气和非导电样品可在其自然状态,而不会显著样品修改或制剂进行检查。

的XL30 ESEM-FEG是第一扫描电子显微镜(esem®)采用稳定的,高亮度的肖特基场发射电子源,用于常规的高真空SEMS潜在有问题的样本的优秀观察性能。

主要优点:

  • 在10托室压真二次电子成像
  • 没有充电不导电的样品
  • 低Z材料
  • 污染样本的观察
  • 多孔材料的观察
  • BC stability < 1% / hour, Schottky emitter
  • 水合样品保持完全稳定
  • 没有涂层的干扰
  • 相变
  • 水化过程
  • 氧化/腐蚀
  • 压力测试

该ESEM-FEG的好处通过消除在显微镜室SEMS的高真空的要求实现的。这是通过从高真空环境中的列和FEG源区分开所述室中的真空环境中进行。

两个压力极限孔径(PLA)中从FEG柱分离显微镜室。通过这些PLAS创建的三个区域分别泵送。这会导致从10托在该腔室有刻度的真空(水的蒸气压以上)到10-8乇在塔的中间区域向下到在发射腔室10-10乇。

低真空和常规高真空模式可以被选择作为可在湿模式下的腔室压力(使用水蒸汽)和辅助模式(使用任何其他气体)。

additionaly仪器具有polarprep 2000低温级系统装配在温度使能迅速冷冻水合样品的观测降至-150o C